 חב' CSM השוויצרית, פיתחה מכשיר מתקדם לבדיקות IDENTATION . יכולת בקרת
הכוח ברמות של 1 MICRO NUTON והרזולוציה של מאיות NANO METER מאפשרות
איפיון של MULTY LAYER, המיוצרות בטכנולוגיות PECVD,PVD,CVD ואחרות
לשכבות דקות אחרות, אשר נמצאות בשימוש תעשיית האופטיקה, מיקרו
אלקטרוניקה וציפוי מגן.
|
